对于投身制造行业的您，无论是专注于软件开发、系统集成、亦或项目规划，都需了解，在物联网架构下，嵌入式测试测量技术已成为智能应用的利器，并可有效促进制造系统的智能化。如何运用该技术进行设备监诊及预防保养以提高机台生产效能；在测试测量软件开发方面，又有怎样的新发展……非常值得您关注。
研华携手业界专家，在全国三大城市举办「嵌入式测试测量软件开发与智能监诊趋势论坛」，邀请业界菁英拨冗参加，期待您的加入！
如有任何报名问题请联系李女士 服务专线：010-62984346-6191
现任辛辛那提大学L.W. Scott Alter 讲座教授、美国智能维护系 (IMS) 研究中心主任。曾担任上海交通大学长江学者讲座教授，美国威斯康辛大学教授，美国联合技术研究中心产品开发与制造部主任。他也曾担任美国国家科学基金会产学研合作与工程教育部主任，取得了卓越的成绩，在国内外享有很高声誉。
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